同轴光，在机器视觉中是一类应用很广泛的光源。同轴光常用于高反光物体表面检测，比如芯片及硅片表面破损检测，LED外观缺陷检测等。从作用上讲，同轴光可以消除物体表面上不平整造成的阴影，均匀照射到物体表面，反射回相机，从而采集出一幅均匀性好，对比度高的图片。然而，在实际应用中，我们经常发现视野做得比较小（镜头放大倍率2倍或2倍以上）的时候，相机采集的图片模糊、镜头完全对焦不上的现象。针对这种现象，CST技术团队找到了一个完善的解决方案，其原理是通过优化同轴光分光镜的光学性能，改善光源内部的透射、反射与折射参数，达到了同轴光在小视野高清晰成像的效果。
